[1]
Azizov, A., Ubaydullayev, S. и Sadikov, A. 2025. Study of the theoretical failure model of the NPM-69-M microelectronic block. Международный научный журнал «Инженер». 3, 2 (июн. 2025), 48-51. DOI:https://doi.org/10.56143/3030-3893-2025-2-48-51.